集成電路測試儀

產(chǎn)品型號： ICT33C

所屬分類：集成電路測試儀

產(chǎn)品時間：2024-05-07

簡要描述：◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時，儀器可判斷其好壞。
◆器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
◆器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時，儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。
◆器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能*，引腳排列*的器件型號。

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詳細(xì)說明：

產(chǎn)品特點：
◆器件好壞判別：當(dāng)不知被測器件的好壞時，儀器可判斷其好壞。
◆器件型號判別：當(dāng)不知被測器件型號時，儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷其型號。
◆器件老化測試：當(dāng)懷疑被測器件的穩(wěn)定性時，儀器可對其進(jìn)行連續(xù)老化測試。
◆器件代換查詢：儀器可顯示有無邏輯功能*，引腳排列*的器件型號。
◆電壓調(diào)節(jié)選擇：3V、5V、9V、15V。
◆內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT-33C可從鍵盤對自己內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機修改。
◆EPROM、EEPROM器件讀入：ICT-33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入
并保存。
◆EPROM、EEPROM器件寫入：ICT-33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM
器件中,并自動校驗。
◆ 新增RS232接口，與PC通訊，互送資料。

技術(shù)規(guī)格：
1、CMOS40系列：103種。
2、CMOSMCI40系列：103種。
3、CMOS45系列：60種。
4、CMOSMCI45系列：60種。
5、光耦合器系列：133種。
6、TTL74/54系列：714種。
8、數(shù)碼管系列：
   0.5寸共陽[001];共陰[002];0.3寸共陽[003];共陰[004];0.7寸共陽[005];共陰[006].
7、TTL75/55系列：82種。
9、常用RAM系列：
   2112  2114  2016  6116  6264  62256  60256  628128 24C01 24C02 24C04 24C08
   24C16 24C32 27C010 29C256 29C010  24C64 93C46 93C56 93C66 28C256

10、EEPROM系列：
   2816  2817  2864 28256  28040  29101
11、EPROM系列：
    2716  2732  2764  27128  27256  27512
12、微機外圍電路系列：
    8155 8156  8255   8253  8259  8212  8282  8283  8216  8816  8243  8226
    8205   8286  8287  6820  6821  6880   6888  6887 6889  6810 6520  8254
    8251 8708  6840  8718  8728  8279  Z80CTC（802）
13、常用單片機系列：
    8031  8032  8051  8052  8048  8039  8035  8049  8751  8752 89C1051 89C2051
    8751H 87C52 89C51 89C
14、其他系列：
    2002 2003  2004   3486  3487  3459  2631  2632 2633  1831  1908
    339 192   293   393   555   556   324   22100 2802  2803  2804
    9637   9638  7831   7832  8831  88323 446MC1413（2003）
    MC1416（2004）  MC14160（40160）   DG201 MC14161（40161）
    MC14162（40162）MC14163  （40163） TIL308  MC14189（75189）
    2902（324） 8T26（826）  AD506

　相關(guān)資料下載：

·	ICT33C+使用說明書	下載
·	ICT33C使用說明書	下載
·	ICT33C+數(shù)字/模擬ICG功能測試儀	下載

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